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J-GLOBAL ID：200903004269222639

IC試験装置

Inventor： 石橋 昌宏 ,  成川 健一 ,  辻本 光一
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Agent (1)： 渡辺 正康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996155412
Publication number (International publication number)：1998002935
Application date： Jun. 17, 1996
Publication date： Jan. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】 多チャンネルで多階調電圧を発生するICを高速試験することが可能なIC試験装置を実現する。【解決手段】 被試験対象からの被検査電圧を上限値電圧及び下限値電圧と比較して被試験対象の良否を試験するIC試験装置において、被試験対象からの複数の被検査電圧を同一時刻に一括してサンプリングする複数のサンプル・ホールド回路と、この複数のサンプル・ホールド回路の出力を順次選択して出力するマルチプレクサ回路と、このマルチプレクサ回路から順次出力される被検査電圧に対応する上限値電圧及び下限値電圧に基づき被検査電圧の良否を検査する検査回路とを設ける。

Claim (excerpt)：

被試験対象からの被検査電圧を上限値電圧及び下限値電圧と比較して前記被試験対象の良否を試験するIC試験装置において、前記被試験対象からの複数の被検査電圧を同一時刻に一括してサンプリングする複数のサンプル・ホールド回路と、この複数のサンプル・ホールド回路の出力を順次選択して出力するマルチプレクサ回路と、このマルチプレクサ回路から順次出力される前記被検査電圧に対応する前記上限値電圧及び下限値電圧に基づき前記被検査電圧の良否を検査する検査回路とを備えたことを特徴とするIC試験装置。