Pat

J-GLOBAL ID：200903004279966415

計測器制御方法および計測器

Inventor： 久保 英二
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991209133
Publication number (International publication number)：1993046893
Application date： Aug. 21, 1991
Publication date： Feb. 26, 1993
Summary：

【要約】【目的】コントローラ側で、計測器の制御情報を随時参照することにより、制御プログラムの作成効率を向上させることにある。【構成】本発明の構成は図1に示す通りであり、計測器2に制御情報を格納する制御情報記憶装置22を有しており、コントローラ1からの指令により、格納している制御情報を計測器からコントローラヘ送信する。コントローラでは、受信した制御情報を随時参照しながら、目的とする制御プログラムを作成する。【効果】制御プログラムの作成効率が向上し、さらに制御情報を記述したマニュアルなどの文書が不要になる。

Claim (excerpt)：

物理量を計測する計測器と該計測器を制御するコントローラとを通信線により接続した計測システムにおいて、該計測器の制御情報を該計測器内に記憶する手段と、コントローラからの指令により該計測器内に記憶しているの制御情報を、該計測器からコントローラへ送信する手段とを有することを特徴とする計測器制御方法。