Pat
J-GLOBAL ID:200903004281328388

光量測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 倉橋 暎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992188831
Publication number (International publication number):1994003187
Application date: Jun. 23, 1992
Publication date: Jan. 11, 1994
Summary:
【要約】【目的】 被測定物に光を照射する光源の光出力を段階的に切換え制御し、広い範囲にわたって高精度に光量を計測できるようにする。【構成】 LED13とこのLED13を駆動する電圧源との間に、抵抗値の異なる複数の抵抗R11〜R14をそれぞれスイッチング手段SW1〜SW4を直列に介して接続し、フォトダイオードPDに入射する光の照度(光量)を計測する際にマイクロコンピュータ20によりスイッチング手段を順次に作動させてこれら抵抗を順次に切換え接続し、LED13から発光される光の強さを段階的に変化させ、被測定物16を透過した光をフォトダイオードPDで受光する。このフォトダイオードPDから出力される電流IP を照度(光量)-周波数変換回路10において受光した光量に応じた周波数信号に変換し、この周波数信号から光量を計測する。
Claim (excerpt):
被測定物に光を照射する光源と、前記被測定物からの透過光又は反射光を受光するとともに受光量に応じて出力電流が変化する光検出素子を含み、該光検出素子に入射する前記被測定物からの光の照度(光量)に応じた周波数信号を出力する照度(光量)-周波数変換手段と、該照度(光量)-周波数変換手段から出力される周波数信号から照度(光量)を計測するとともに前記光源の光出力を段階的に自動制御する演算制御手段とを具備することを特徴とする光量測定装置。
IPC (4):
G01J 1/44 ,  G01J 1/42 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/59
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開平3-075585
  • 特開平4-109190
  • 特開昭47-022782
Show all

Return to Previous Page