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J-GLOBAL ID：200903004313057195

粒度分布測定用サンプリング装置

Inventor： 伊藤 良一 ,  河本 真宏
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Agent (1)： 池浦 敏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002190859
Publication number (International publication number)：2004037111
Application date： Jun. 28, 2002
Publication date： Feb. 05, 2004
Summary：

【課題】安定して粒径をサンプリング及び測定することができる粒度分布測定用サンプリング装置を提供する。【解決手段】粉体輸送管4内に設けられる吸引ノズル5の上方位置に、振動発生装置13によって振動を付与可能な篩16を配設してサンプリング装置12を構成する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

配管内を非連続的に自由落下する粉体のサンプリングを行う粒度分布測定用サンプリング装置において、落下する粉体の大きさよりも十分に大きい目開きの篩を配置し、落下してきた粉体を一時捕捉し、捕捉した粉体が篩を通過した後は連続的に落下し、その粉体の一部を吸引して測定器に取り込み粒径を連続的に測定する粒度分布測定用サンプリング装置。

IPC (3)：

G01N15/02 ,  G01N1/02 ,  G01N1/04

FI (4)：

G01N15/02 A ,  G01N1/02 J ,  G01N1/04 D ,  G01N1/04 M

F-Term (12)：

2G052AA04 ,  2G052AC19 ,  2G052AC21 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD52 ,  2G052BA03 ,  2G052BA13 ,  2G052CA04 ,  2G052EA04 ,  2G052EA11 ,  2G052GA11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• インライン粒度測定機用サンプリングシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-119675   Applicant：住金物産インテック株式会社
• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-089425   Applicant：株式会社島津製作所

Cited by examiner (2)

• インライン粒度測定機用サンプリングシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-119675   Applicant：住金物産インテック株式会社
• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-089425   Applicant：株式会社島津製作所