Pat
J-GLOBAL ID:200903004433747330

含浸形陰極及びこれを用いた電子管

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995039668
Publication number (International publication number):1996236008
Application date: Feb. 28, 1995
Publication date: Sep. 13, 1996
Summary:
【要約】【目的】 イオン衝撃による性能劣化の少ない電子管およびそれに用いるスカンジウムを含む被覆膜を有する含浸形陰極(Sc被覆型含浸形陰極)を提供する。【構成】 被覆膜構成を、タングステンを主構成要素とする上部被覆膜と、スカンジウムを主構成要素とする下部被覆膜の2層膜とする。
Claim (excerpt):
バリウムを含む酸化物を含浸させた多孔質タングステン基体と、該多孔質タングステン基体表面上に形成されたスカンジウムを主体とする下部被覆膜と、該下部被覆膜表面上に形成された高融点金属を主体とする上部被覆膜を有することを特徴とする含浸形陰極。
IPC (2):
H01J 1/28 ,  H01J 29/48
FI (2):
H01J 1/28 A ,  H01J 29/48 A

Return to Previous Page