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J-GLOBAL ID:200903004515047515
フィルムワークのパターン検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
五十畑 勉男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004349245
Publication number (International publication number):2006162250
Application date: Dec. 02, 2004
Publication date: Jun. 22, 2006
Summary:
【課題】 長尺状のフィルムワークの幅方向に撮像ユニットを走査し、ワークに形成されたパターンの画像を取得して検査を行なうフィルムワークのパターン検査装置において、フィルムワークに幅方向の湾曲が生じていても、撮像ユニットを湾曲に沿って焦点位置がずれないように走査し、ぼけのないパターン画像を取得する装置を提供すること。【解決手段】 撮像ユニットの近傍に、ワーク表面までの距離を測定する距離センサを設け、撮像ユニットがワークの幅方向に走査移動されているとき、距離センサから距離情報に基づき、撮像ユニットをフィルムワークまでの距離が焦点距離になるように移動させる。フィルムワークを移動させても良い。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
長尺状のフィルムワークの幅方向に撮像ユニットを走査し、該フィルムワーク上に形成されたパターンの画像を取得して検査するフィルムワークのパターン検査装置において、
上記撮像ユニットは、上記フィルムワークの長手方向に沿って配置されたラインセンサである撮像素子と、該撮像素子に上記フィルムワーク上のパターンを投影する光学素子とからなり、
上記撮像ユニットを上記フィルムワークの幅方向に移動させる走査移動機構と、上記撮像ユニットを撮像ユニットの光軸方向に移動させる光軸方向移動機構と、上記走査移動機構により上記撮像ユニットとともに走査移動しつつ上記フィルムワークまでの距離を測定する距離センサと、上記距離センサからの距離情報に基づき上記光軸方向移動機構を駆動し上記撮像ユニットを上記フィルムワークに対して焦点距離に保つ制御部とを備えたことを特徴とするフィルムワークのパターン検査装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/892 A
, G01B11/30 A
F-Term (36):
2F065AA02
, 2F065AA06
, 2F065AA49
, 2F065BB13
, 2F065BB15
, 2F065BB23
, 2F065CC01
, 2F065CC02
, 2F065DD10
, 2F065FF42
, 2F065GG01
, 2F065GG21
, 2F065HH12
, 2F065HH13
, 2F065HH15
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065MM03
, 2F065MM24
, 2F065PP02
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065QQ39
, 2F065RR05
, 2F065SS04
, 2G051AA41
, 2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051BA01
, 2G051BA06
, 2G051BB01
, 2G051CA03
, 2G051CB01
, 2G051CB02
, 2G051CD02
, 2G051DA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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テープの検査装置及び検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-180141
Applicant:株式会社ブイ・テクノロジー
-
パターン検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-180901
Applicant:ウシオ電機株式会社
-
測長方法及びこれを用いたテーブル型測長装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-134921
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
-
基板検査装置および基板検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-266576
Applicant:芝浦メカトロニクス株式会社
-
特開平2-090047
-
特開昭63-075507
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