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J-GLOBAL ID：200903004590180000
結晶構造解析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
津軽 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000216542
Publication number (International publication number)：2002031609
Application date： Jul. 17, 2000
Publication date： Jan. 31, 2002
Summary：
【要約】【課題】結晶構造を詳細に解析することができる結晶構造解析方法を提供する。【解決手段】SBT薄膜1の傾き角ψを0度≦ψ≦90度の範囲内において1度間隔で変化させるとともに、入射X線5の入射角度θを0度≦θ≦90度の範囲内において0.025度間隔で変化させながら、SBT薄膜1に入射X線5を照射する。
Claim 1：
結晶構造を有する試料にX線を照射し、前記試料で回折したX線を検出し、該検出されたX線の強度に基づいて前記試料の結晶構造を解析する結晶構造解析方法であって、前記検出されたX線のうち、第1の結晶面間隔で並ぶ第1の結晶面で回折した第1のX線の強度と、前記第1の結晶面に対し斜めに広がり第2の結晶面間隔で並ぶ第2の結晶面で回折した第2のX線の強度とに基づいて、前記試料の結晶構造を解析することを特徴とする結晶構造解析方法。
F-Term (13)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001GA01
, 2G001GA13
, 2G001JA06
, 2G001JA08
, 2G001JA11
, 2G001KA08
, 2G001LA11
, 2G001MA05
, 2G001PA12
