Pat
J-GLOBAL ID：200903004617743141
特徴評価方法及び装置及びプログラム
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
伊東 忠彦
, 石原 隆治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006310631
Publication number (International publication number)：2008129657
Application date： Nov. 16, 2006
Publication date： Jun. 05, 2008
Summary：
【課題】分類問題において、サポートベクターマシンでの学習結果における新たな指標を導入することによって、少ない学習パターン数においても特徴セットの有効性を評価することを可能にする。【解決手段】本発明は、学習パラメータ記憶手段から読み出した学習パラメータを用いて評価対象学習パターンについて学習し、学習結果からサポートベクターの数を取得し、サポートベクター数、既存の方法により求めた特徴セット評価指標を利用して特徴セットの評価値を求め、特徴セットの評価値の最も高いものを最適特徴セットとする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
パターン分類を行う際に、特徴セットが分類において有効か否かを評価する特徴評価装置における特徴評価方法であって、
サポートベクターマシン学習手段が、学習パラメータ記憶手段から読み出した学習パラメータを用いて評価対象学習パターンについて学習するサポートベクターマシン学習手順と、
サポートベクター数取得手段が、前記サポートベクターマシン学習手順による学習結果からサポートベクターの数を取得するサポートベクター数取得手順と、
特徴セット評価値算出手段が、前記サポートベクター数、既存の方法により求めた特徴セット評価指標を利用して特徴セットの評価値を求める特徴セット評価値算出手順と、
特徴決定手段が、前記特徴セットの評価値の最も高いものを最適特徴セットとする特徴決定手順と
を行うことを特徴とする特徴評価方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (6)：
5L096AA06
, 5L096HA09
, 5L096JA11
, 5L096JA22
, 5L096KA04
, 5L096MA07
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (3)
Return to Previous Page
