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J-GLOBAL ID:200903004640146347

変位測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 後藤 洋介 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998267985
Publication number (International publication number):2000097736
Application date: Sep. 22, 1998
Publication date: Apr. 07, 2000
Summary:
【要約】【課題】 被変位測定物の変位量を正確に検出する。【解決手段】 送信部11、例えば、岩盤13に埋設されており、発振回路14aの発振に応じて送信コイル14bは磁束を出力する。受信部12には第1及び第2の受信コイル15a及び15bが備えられており、第1及び第2の受信コイルは磁束に応答してそれぞれ第1及び第2の電圧を出力する。第1及び第2の検波回路16a及び16bはそれぞれ第1及び第2の電圧を検波して第1及び第2の検波信号を出力する。そして、除算回路17は第1及び第2の検波信号を割り算処理して変位測定結果を得る。
Claim (excerpt):
被変位測定物に埋設され磁束を出力する送信部と、該送信部から離れて配置され前記送信部に磁気的に結合された受信部とを有し、前記送信部には、予め定められた周波数の発振信号を出力する発振回路と、該発振信号に応じて前記磁束を出力する送信コイルとが備えられ、前記受信部には、第1の受信コイルと該第1の受信コイルに対して所定の距離をおいて配置された第2の受信コイルとが備えられており、前記第1の受信コイルは前記磁束に応答して第1の電圧を出力し、前記第2の受信コイルは前記磁束に応答して第2の電圧を出力しており、さらに、前記受信部は、前記第1の電圧を検波して第1の検波信号を得る第1の検波回路と、前記第2の電圧を検波して第2の検波信号を得る第2の検波回路と、前記第1及び前記第2の検波信号を除算処理して前記変位測定結果を得る除算回路とを有することを特徴とする変位測定装置。
IPC (3):
G01D 21/00 ,  G01B 7/00 ,  G01C 15/00
FI (3):
G01D 21/00 D ,  G01B 7/00 D ,  G01C 15/00 Z
F-Term (17):
2F063AA02 ,  2F063BA16 ,  2F063CA10 ,  2F063DA02 ,  2F063DA05 ,  2F063DA11 ,  2F063DD03 ,  2F063EB30 ,  2F063GA01 ,  2F063KA01 ,  2F063KA03 ,  2F063LA25 ,  2F076BA01 ,  2F076BA18 ,  2F076BB09 ,  2F076BD15 ,  2F076BE02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
  • 特開平2-290512
  • 特開昭56-153271
  • 特開平2-290512
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