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J-GLOBAL ID：200903004690233666

反射光を利用して流体の濁度を測定する計測器

Inventor： ジョー・ジョー・ング ,  キー・ブーン・リム ,  チェー・ワイ・チア ,  セルヴァン・マニアム
Applicant, Patent owner： アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド
Agent (3)： 古谷 聡 ,  溝部 孝彦 ,  西山 清春
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006235178
Publication number (International publication number)：2007064982
Application date： Aug. 31, 2006
Publication date： Mar. 15, 2007
Summary：

【課題】 小型で、製造が単純で、しかも低汚濁の流体を測定する際に良好な感度を有する流体の汚濁を測定する計測器を提供する。【解決手段】 本発明の計測器は、反射表面に向けて試験される流体を介して光ビームを方向付ける光源と、反射表面で反射され、試験される流体を介して戻される光を検出し、試験される流体の濁度を指示する信号を出力するセンサとからなることを特徴とする。【選択図】 図2

Claim 1：

流体の濁度を測定する計測器であって、 反射表面に向けて試験される流体を介して光ビームを方向付ける光源と、 前記反射表面で反射され、前記試験される流体を介して戻される光を検出し、前記試験される流体の濁度を指示する信号を出力するセンサとからなる計測器。

IPC (4)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/49 ,  A47L 15/46 ,  D06F 33/02

FI (5)：

G01N21/27 B ,  G01N21/49 Z ,  A47L15/46 F ,  D06F33/02 Q ,  D06F33/02 T

F-Term (30)：

2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059EE13 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059NN06 ,  3B082DB03 ,  3B082DC02 ,  3B155AA10 ,  3B155BB08 ,  3B155BB09 ,  3B155CA02 ,  3B155CA16 ,  3B155FA02 ,  3B155KA15 ,  3B155LB29 ,  3B155MA01 ,  3B155MA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• Manzらによる米国特許出願公開第US2004/0135089号