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J-GLOBAL ID：200903004745823476

分析装置

Inventor：
田野島 英司

About 田野島 英司

, 
若宮 裕二

About 若宮 裕二


Applicant, Patent owner：
シスメックス株式会社

About シスメックス株式会社


Agent (1)： 宮園 博一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004012014
Publication number (International publication number)：2005207767
Application date： Jan. 20, 2004
Publication date： Aug. 04, 2005
Summary：
【課題】反応容器のセット位置を使用者が容易に認識することができるとともに、反応容器のセット位置を間違えた場合にその誤りを検知することが可能な分析装置を提供する。【解決手段】この分析装置100は、測定オーダを受け付けるキーボード102aおよびマウス102bと、検出セル65が載置される検出セルセット孔61aと、検出セル65が検出セルセット孔61aに載置されているか否かを検出するための濁度検出部62と、キーボード102aおよびマウス102bによって受け付けられた測定オーダと濁度検出部62の出力とに基づいて検出セルセット孔61aの状態を取得する測定部101の制御部80のCPU80aおよびデータ処理部102のCPU102dと、CPU80aおよび102dによって取得された検出セルセット孔61aの状態を表示する表示部102cとを備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
測定指示を受け付ける入力手段と、 反応容器が載置される容器載置部と、 前記反応容器が前記容器載置部に載置されているか否かを検出するための検出手段と、 前記入力手段によって受け付けられた前記測定指示と前記検出手段の出力とに基づいて前記容器載置部の状態を取得する制御部と、 前記制御部によって取得された前記容器載置部の状態を表示する表示手段とを備えた、分析装置。
IPC (2)：
G01N35/02 ,  G01N35/00
FI (3)：
G01N35/02 Z ,  G01N35/00 A ,  G01N35/00 E
F-Term (5)：
2G058CB09 ,  2G058CC14 ,  2G058CD12 ,  2G058GA02 ,  2G058GB08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 自動分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-059374   Applicant：株式会社日立製作所
Cited by examiner (3)

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