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J-GLOBAL ID：200903004749683385

散乱吸収体の内部情報の計測方法及び装置

Inventor：
土屋 裕

About 土屋 裕


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998205486
Publication number (International publication number)：2000039396
Application date： Jul. 21, 1998
Publication date： Feb. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】 従来のフィッティング法を用いることなく、散乱吸収体の輸送散乱係数μ'sや吸収係数μaを簡単にかつ高精度に定量することが可能な方法及び装置を提供すること。【解決手段】 所定波長を有するパルス光を散乱吸収体中に光入射位置から入射する光入射手段と、前記散乱吸収体内部を伝播した光を光検出位置で検出して光検出信号を取得する光検出手段と、前記光検出信号に基づいて、検出光強度の時間変化を示す波形データを取得する信号処理手段と、前記波形データに基づいて、前記検出光を構成する複数光子の平均光路長を演算する平均光路長演算手段と、前記波形データに基づいて、前記複数光子の光路長の分散を演算する分散演算手段と、前記平均光路長及び前記分散と輸送散乱係数及び吸収係数との間の所定の関係に基づいて、前記散乱吸収体の輸送散乱係数及び吸収係数を算出する輸送散乱係数及び吸収係数算出手段と、を備えることを特徴とする、散乱吸収体の内部情報の計測装置。
Claim (excerpt)：
所定波長を有するパルス光を散乱吸収体中に光入射位置から入射する光入射ステップと、前記散乱吸収体内部を伝播した光を光検出位置で検出して光検出信号を取得する光検出ステップと、前記光検出信号に基づいて、検出光強度の時間変化を示す波形データを取得する信号処理ステップと、前記波形データに基づいて、前記検出光を構成する複数光子の平均光路長を演算する平均光路長演算ステップと、前記波形データに基づいて、前記複数光子の光路長の分散を演算する分散演算ステップと、前記平均光路長及び前記分散と輸送散乱係数及び吸収係数との間の所定の関係に基づいて、前記散乱吸収体の輸送散乱係数及び吸収係数を算出する輸送散乱係数及び吸収係数算出ステップと、を含むことを特徴とする、散乱吸収体の内部情報の計測方法。
IPC (3)：
G01N 21/27 ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/49
FI (3)：
G01N 21/27 A ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/49 A
F-Term (22)：
2G059AA03 ,  2G059BB12 ,  2G059BB20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059GG08 ,  2G059HH06 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM13 ,  2G065AA04 ,  2G065AA13 ,  2G065AB01 ,  2G065AB14 ,  2G065AB20 ,  2G065AB24 ,  2G065BA01 ,  2G065BB02 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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