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J-GLOBAL ID：200903004791908524

細長対象物の放射画像の記録及び読取方法

Inventor： ピエト・デワエレ
Applicant, Patent owner： アグフア-ゲヴエルト・ナームローゼ・フエンノートシヤツプ
Agent (1)： 小田島 平吉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998090625
Publication number (International publication number)：1998268451
Application date： Mar. 20, 1998
Publication date： Oct. 09, 1998
Summary：

【要約】【課題】 格子の再構成画像を基に、細長対象物の画像を再構成する。【解決手段】 細長対象物の大きさより小さいサイズの複数の刺激可能な蛍光体スクリーン上に、放射画像を記録する。スクリーンを、減衰材料の格子ラインの放射画像及び細長対象物の放射画像に露出して、該細長対象物の部分画像及びその上に重畳された格子の部分画像を各スクリーンに記憶保持する。スクリーンは、個々に読み取られる。

Claim (excerpt)：

細長対象物の放射画像の記録及び読取方法であって、(a)該細長対象物の大きさより小さいサイズを各々有する複数の光刺激性の燐光スクリーンを、細長対象物の放射画像及び基準マークのパターンの特定の部分に同時に露出し、(b)刺激放射により前記各スクリーンを走査し、刺激により発光した光を検出し、前記光を前記スクリーンに記憶保持された画像の信号表現に変換し、(c)前記デジタル信号表現から一部の信号表現を抽出し、前記部分的な信号表現は、スクリーンに記憶保持された前記基準マークのパターンの一部分を各々代表するものであり、(d)前記一部分の信号表現から、スクリーンに記憶保持された基準マークのパターン部分の画像の位置を決定し、(e)決定されたパターン部分の位置を利用して基準マークのパターン全体の画像を再構成するにより、工程(b)で得られた信号表現をステッチすることを特徴とする方法。

IPC (5)：

G03B 42/02 ,  A61B 6/00 ,  G21K 4/00 ,  H04N 1/00 ,  H04N 1/04

FI (5)：

G03B 42/02 B ,  G21K 4/00 L ,  H04N 1/00 F ,  A61B 6/00 303 J ,  H04N 1/04 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭58-163338
  
• 特開昭58-163340
  
• 特開昭59-007250