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J-GLOBAL ID：200903004800314365

材料試験機

Inventor： 安田 善一
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 永井 冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992271860
Publication number (International publication number)：1994123686
Application date： Oct. 09, 1992
Publication date： May. 06, 1994
Summary：

【要約】【目的】 試験波形の周波数に応じてフィードバック制御の演算増幅処理の実行時間間隔を変更し、低周波数領域における制御精度を向上させる。【構成】 試験波形の設定周波数に応じてフィードバック制御の演算増幅処理の実行時間間隔を設定し、この時間間隔内で供試体100の物理量のA/D変換が複数回行われた時はそれらの平均値を算出するとともに、その平均値と試験波形に対してフィードバック制御の演算増幅処理を行い、負荷手段101の操作量を演算して供試体100を負荷する。

Claim (excerpt)：

供試体を負荷する負荷手段と、前記供試体を負荷する際の基準となる物理量の試験波形を発生する試験波形発生手段と、負荷された前記供試体から前記物理量を検出する物理量検出手段と、この物理量検出手段の検出結果をA/D変換するA/D変換手段と、前記試験波形発生手段の試験波形と前記A/D変換手段の変換出力に対してフィードバック制御の演算増幅処理を行い、前記負荷手段の操作量を演算する演算手段とを備えた材料試験機において、前記試験波形発生手段から発生される試験波形の設定周波数に応じて、前記演算手段による演算増幅処理の実行時間間隔を設定する時間間隔設定手段と、この時間間隔設定手段で設定された時間間隔内で前記A/D変換手段によるA/D変換が複数回行われた時は、複数回の変換出力の平均値を算出する平均値算出手段とを備え、前記演算手段は、前記試験波形発生手段の試験波形と前記平均値算出手段の平均値に対してフィードバック制御の演算増幅処理を行い、前記負荷手段の操作量を演算することを特徴とする材料試験機。