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J-GLOBAL ID：200903004808006570

穀粒選別装置

Inventor： 島内 聡 ,  都築 建夫 ,  渡部 陽一 ,  門田 浩 ,  宮本 和彦 ,  野上 哲 ,  西村 昭人
Applicant, Patent owner： セイレイ工業株式会社
Agent (1)： 矢野 寿一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003313354
Publication number (International publication number)：2005083775
Application date： Sep. 05, 2003
Publication date： Mar. 31, 2005
Summary：

【課題】 従来の穀粒選別装置の画像処理においては、穀粒領域が互いに接触したり又は重なりあったりした場合に、本来複数であるはずの穀粒領域を1つの穀粒領域として認識されるため、画像処理によって1つの穀粒として切り出される処理が行われてしまう問題等があった。【解決手段】穀粒を撮像し、該撮像によって取得された画像データに基づいて穀粒の良又は不良の判断を行うことによって、不良の穀粒を選別除去する穀粒選別装置において、上記画像データを2値化する2値化手段と、該2値化手段によって2値化された画像データに含まれる穀粒領域を抽出し、該抽出した穀粒領域を収縮する収縮手段と、該穀粒領域の重心を算出する重心算出手段と、該収縮手段によって収縮された穀粒領域を膨張する膨張手段と、該穀粒領域を切り出す切り出し手段と、を具備することを特徴とする穀粒選別装置1として構成している。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

穀粒を撮像し、該撮像によって取得された画像データに基づいて穀粒の良又は不良の判断を行うことによって、不良の穀粒を選別除去する穀粒選別装置において、 上記画像データを2値化する2値化手段と、 該2値化手段によって2値化された画像データに含まれる穀粒領域を抽出し、該抽出した穀粒領域を収縮する収縮処理を行う収縮手段と、 該収縮手段によって収縮された穀粒領域の重心を算出する重心算出手段と、 該収縮手段によって収縮された穀粒領域を膨張する膨張処理を行う膨張手段と、 該膨張手段によって膨張された穀粒領域を切り出す切り出し手段と、 を具備することを特徴とする穀粒選別装置。

IPC (7)：

G01N21/85 ,  B02B7/00 ,  B07C5/342 ,  G06T1/00 ,  G06T3/00 ,  G06T7/00 ,  G06T7/60

FI (7)：

G01N21/85 A ,  B02B7/00 C ,  B07C5/342 ,  G06T1/00 280 ,  G06T3/00 400A ,  G06T7/00 200A ,  G06T7/60 150C

F-Term (55)：

2G051AA04 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051EA11 ,  2G051ED04 ,  2G051ED07 ,  2G051ED15 ,  2G051ED23 ,  3F079AC13 ,  3F079BA06 ,  3F079CA41 ,  3F079CA44 ,  3F079CB29 ,  3F079CB31 ,  3F079CB35 ,  3F079CC03 ,  3F079DA06 ,  3F079EA01 ,  3F079EA09 ,  4D043FA02 ,  4D043FA03 ,  4D043LA05 ,  5B057AA15 ,  5B057BA02 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE02 ,  5B057CE09 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC06 ,  5B057DC14 ,  5B057DC22 ,  5L096AA03 ,  5L096AA06 ,  5L096BA18 ,  5L096CA14 ,  5L096EA02 ,  5L096EA43 ,  5L096FA60 ,  5L096FA69 ,  5L096GA15 ,  5L096GA34

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• ニューラルネットワークを利用した穀粒選別装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-114125   Applicant：セイレイ工業株式会社

Cited by examiner (8)

• ニューラルネットワークを利用した穀粒選別装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-114125   Applicant：セイレイ工業株式会社
• 指紋入力方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-133858   Applicant：シャープ株式会社, 株式会社イーゼル
• 電子部品の外観検査方法および外観検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-036120   Applicant：三菱マテリアル株式会社
• 粒状物選別方法及び粒状物選別装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-247798   Applicant：株式会社佐竹製作所
• 錠剤検査システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-334727   Applicant：三洋電機株式会社
• 特開昭62-235550
  
• 特開平3-134777
  
• 物品識別システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-104877   Applicant：エヌ・ティ・ティ・データ通信株式会社