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J-GLOBAL ID：200903004822883193

劣化計測装置

Inventor： 恩田 勝弘 ,  奥平 悦雄 ,  平澤 泰治 ,  古村 一朗 ,  長井 敏
Applicant, Patent owner： 中部電力株式会社 ,  株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991337129
Publication number (International publication number)：1993172794
Application date： Dec. 19, 1991
Publication date： Jul. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明は、長時間高温環境下での使用に伴う材質的な劣化、損傷を受ける機器や機器の劣化を計測に可能にしている。【構成】送受信用超音波探触子群31,32 を配置したセンサー部を有する検出ヘッド3 、送信用超音波探触子群31の各超音波探触子を選択し順次超音波を送出させる多チャンネルパルサ群11、受信用超音波探触子群32の各超音波探触子で受信される超音波を取り込む多チャンネルレシーバ群12を有し、受信用超音波探触子群32で受信される超音波信号を測定して、これら測定値と受信用超音波探触子群32の各超音波探触子間の距離により超音波減衰定数を劣化度測定判定器17で測定し、ここでの測定結果を予め記憶装置16に記憶した被検材と同等な試験材に対する損傷度と超音波減衰変化の関係を表すマスターカーブ照合することで被検材の劣化損傷度を評価するようにしている。

Claim (excerpt)：

複数の超音波探触子からなる送信用および受信用超音波探触子群を複数群ずつ配置したセンサー部および該センサー部を被検材の所定位置に固定する固定手段を有する検出ヘッドと、この検出ヘッドの送信用超音波探触子群の超音波探触子を選択し順次超音波を送信させるとともに該超音波の伝播方向に配置された上記受信用超音波探触子群の各超音波探触子により受信させる超音波送受信手段と、上記受信用超音波探触子群の各超音波探触子で受信される超音波信号を測定するとともにこれら測定値と上記受信用超音波探触子群の各超音波探触子間の距離により超音波減衰定数を測定する測定手段と、予め上記被検材と同等な試験材に対する損傷度と超音波減衰変化の関係を表すマスターカーブを記録した記憶手段と、上記測定手段の測定結果を上記記憶手段に記憶されたマスーカーブと照合することで上記被検材の劣化損傷度を評価する評価手段とを具備したことを特徴とする劣化計測装置。