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J-GLOBAL ID：200903004834285518

3次元計測装置

Inventor： 糊田 寿夫 ,  藤井 英郎 ,  矢橋 暁 ,  上古 琢人
Applicant, Patent owner： ミノルタ株式会社
Agent (1)： 久保 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995299923
Publication number (International publication number)：1997145312
Application date： Nov. 17, 1995
Publication date： Jun. 06, 1997
Summary：

【要約】【課題】撮影位置の設定の制約が少なく、しかも計測の誤差が小さいという実用性に優れた計測装置の提供を目的とする。【解決手段】計測対象の物体に検出光を照射するための投光系と、撮像面に入射した光の光量に応じた信号を出力する光電変換手段と、物体の光学像を撮像面に結像する受光光学系と、受光光学系の主点位置を示す信号を出力する主点検出手段59A,60Aと、光電変換手段によって得られた物体の撮像情報、及び前記主点検出手段によって得られた主点位置情報に基づいて、物体の3次元位置を算定する演算処理手段とを設ける。

Claim (excerpt)：

計測対象の物体に検出光を照射するための投光系と、撮像面に入射した光の光量に応じた信号を出力する光電変換手段と、前記物体の光学像を前記撮像面に結像する受光光学系と、前記受光光学系の主点位置を示す信号を出力する主点検出手段と、前記光電変換手段によって得られた前記物体の撮像情報、及び前記主点検出手段によって得られた主点位置情報に基づいて、前記物体の3次元位置を算定する演算処理手段と、を有したことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (4)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00

FI (4)：

G01B 11/00 B ,  G01B 11/24 A ,  G01C 3/06 A ,  G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 3次元形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-320245   Applicant：ミノルタ株式会社
• 複眼撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-346706   Applicant：キヤノン株式会社