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J-GLOBAL ID:200903004845132810

画面の線欠陥の検出方法及び検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 稲葉 良幸 ,  田中 克郎 ,  大賀 眞司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004227636
Publication number (International publication number):2006047077
Application date: Aug. 04, 2004
Publication date: Feb. 16, 2006
Summary:
【課題】 信頼性の高い画面の線欠陥の検出方法及び検出装置の提供。 【解決手段】 入力された画面の画像情報から着目画素を選択し、当該着目画素を含むようにサンプリング領域を画定するサンプリング領域画定過程と、前記サンプリング領域の画素データから各画素列ごとに輝度が最大又は最小となる特徴画素を抽出する特徴画素抽出過程と、前記着目画素に、前記特徴画素の位置情報から得られる線欠陥の予想位置と前記着目画素との距離に応じた重み付けを行った値を設定する特徴値設定過程と、前記サンプリング領域画定過程から前記特徴値設定過程までの過程を各着目画素について繰り返し行うことにより、前記画面の全体領域における全画素について特徴値を設定し、当該特徴値に基づいて前記画面の線欠陥を判別する判別過程と、を含む画面の線欠陥の検出方法により、上記課題を解決する。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
入力された画面の画像情報から着目画素を選択し、当該着目画素を含むようにサンプリング領域を画定するサンプリング領域画定過程と、 前記サンプリング領域の画素データから各画素列ごとに輝度が最大又は最小となる特徴画素を抽出する特徴画素抽出過程と、 前記着目画素に、前記特徴画素の位置情報から得られる線欠陥の予想位置と前記着目画素との距離に応じた重み付けを行った値を設定する特徴値設定過程と、 前記サンプリング領域画定過程から前記特徴値設定過程までの過程を各着目画素について繰り返し行うことにより、前記画面の全体領域における全画素について特徴値を設定し、当該特徴値に基づいて前記画面の線欠陥を判別する判別過程と、 を含むことを特徴とする画面の線欠陥の検出方法。
IPC (5):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 ,  G06T 1/00
FI (5):
G01N21/88 Z ,  G01B11/30 Z ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G06T1/00 300
F-Term (35):
2F065AA18 ,  2F065CC25 ,  2F065DD11 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA18 ,  2H088FA30 ,  2H088MA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD05 ,  5B057CH08 ,  5B057CH11 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DA12 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)

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