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J-GLOBAL ID：200903004863622647

蛍光X線分析計

Inventor： 田村 浩一
Applicant, Patent owner： セイコーインスツルメンツ株式会社
Agent (1)： 林 敬之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998208261
Publication number (International publication number)：2000046763
Application date： Jul. 23, 1998
Publication date： Feb. 18, 2000
Summary：

【要約】【課題】従来の可搬型蛍光X線分析計においては、蛍光X線を照射する測定点を特定するために厳密に位置を合わせることが困難であるという課題があった。【解決手段】X線発生源から発生した一次X線が被測定試料に照射される位置を観察する撮像装置と、その画像を表示する表示装置を、同じ筐体内に納める構成とした。

Claim (excerpt)：

蛍光X線法を原理とする蛍光X線分析計において、X線発生源と、前記X線発生源から発生するX線光束の一部のみを被測定試料に照射するためのコリメータと、前記被測定試料から発生する蛍光X線を検出するX線検出器と、前記被測定試料の画像を取得する撮像装置と、前記試料画像を表示する表示装置と、これらを一体化せしめる筐体からなる蛍光X線分析計。

F-Term (13)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001HA05 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA12 ,  2G001JA13 ,  2G001KA01 ,  2G001SA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭56-128408
  
• 特開平3-073834
  
• 特開平4-175648