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J-GLOBAL ID：200903004866614424

閉鎖配電盤内自動点検システム

Inventor： 佐藤 博司
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995281686
Publication number (International publication number)：1997130927
Application date： Oct. 30, 1995
Publication date： May. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 少ない配線数を用いて配電盤内の温度を空間的、時間的に連続性をもって監視することにある。【解決手段】 閉鎖配電盤12内の所定の電気機器および所定の測定ポイントに跨がって連続的に光ファイバ11を敷設し、この光ファイバの一端側に光パルス信号を入射し、この光ファイバ内からの散乱光を検出する光温度分布レーダ11〜14と、予め電気機器などの正常時に所定の時間ごとの光ファイバの距離に対する温度を空間的に表す温度分布データが記憶され、閉鎖配電盤の実際の稼働時に所定の時間ごとに光パルス信号の入射によって得られる光ファイバの距離に対する温度データを取り出し、この温度データと前記記憶された温度分布データとの差分を演算し、この差分温度に基づいて実測温度分布データを取得する温度データ処理手段15とを設けた閉鎖配電盤内自動点検システムである。

Claim (excerpt)：

閉鎖配電盤内の所定の電気機器および所定の測定ポイントに跨がって連続的に光ファイバを敷設し、この光ファイバの一端側に光パルス信号を入射し、この光パルス信号による当該光ファイバ内からの散乱光を検出する光温度分布レーダと、予め前記電気機器などの正常時に所定の時間ごとの光ファイバの距離に対する温度を空間的に表す温度分布データが記憶され、前記閉鎖配電盤の実際の稼働時に所定の時間ごとに前記光パルス信号の入射によって得られる前記光ファイバの距離に対する温度データを取り出し、この温度データと前記記憶された温度分布データとの差分を演算し、この差分温度に基づいて実測温度分布データを取得する温度データ処理手段とを備え、この実測温度分布データから閉鎖配電盤の異常電気機器および異常箇所を検出することを特徴とする閉鎖配電盤内自動点検システム。