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J-GLOBAL ID：200903004878649304

画像測定装置

Inventor：
高地 伸夫

About 高地 伸夫

, 
穴井 哲治

About 穴井 哲治

, 
大谷 仁志

About 大谷 仁志


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 橋爪 健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007222002
Publication number (International publication number)：2009053126
Application date： Aug. 29, 2007
Publication date： Mar. 12, 2009
Summary：
【課題】 計測対象物が遠距離であってもその詳細な特徴を精度よく簡便に測定する。【解決手段】 測定処理部13は、測定対象物を、撮像エリアを微動させながら撮影した複数の第1画像を取得する。特徴抽出処理部14は、測定処理部13により取得された第1画像から対象物の概略特徴部分を抽出する。部分画像形成処理部15は、特徴抽出処理部14で抽出された概略特徴部分近傍で、測定処理部13で取得された複数の第1画像をグループ化することで複数の第1部分画像を形成する。超解像画像形成処理部16は、部分画像形成処理部15により形成された複数の第1部分画像から超解像画像を形成する。【選択図】 図14
Claim (excerpt)：
測定対象物を、撮像エリアを微動させながら撮影した複数の第1画像を取得するための測定処理部と、 上記測定処理部により取得された第1画像から対象物の概略特徴部分を抽出する特徴抽出処理部と、 上記特徴抽出処理部で抽出された概略特徴部分近傍で、上記測定処理部で取得された複数の第1画像をグループ化することで複数の第1部分画像を形成する部分画像形成処理部と、 上記部分画像形成処理部により形成された複数の第1部分画像から超解像画像を形成する超解像画像形成処理部と を備え、 上記特徴抽出処理部は、超解像画像から詳細特徴部分を抽出するように構成されていることを特徴とする画像測定装置。
IPC (6)：
G01C 11/02 ,  G01C 15/00 ,  G01B 11/24 ,  H04N 1/387 ,  G06T 3/00 ,  G06T 3/40
FI (7)：
G01C11/02 ,  G01C15/00 103Z ,  G01B11/24 K ,  H04N1/387 ,  H04N1/387 101 ,  G06T3/00 400J ,  G06T3/40 C
F-Term (38)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA12 ,  2F065AA31 ,  2F065AA49 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065CC14 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF11 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL10 ,  2F065LL19 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  5B057AA13 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD05 ,  5B057CD06 ,  5B057CE10 ,  5B057DA07 ,  5B057DC05 ,  5B057DC17 ,  5C076AA19 ,  5C076AA21 ,  5C076BB04 ,  5C076CB01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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