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J-GLOBAL ID：200903004922296759

X線検査装置

Inventor： 藤井 正司 ,  宇山 喜一郎
Applicant, Patent owner： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996341669
Publication number (International publication number)：1998185842
Application date： Dec. 20, 1996
Publication date： Jul. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】 人力で持ち運びが可能であり、建造物等の移動困難な対象物の内部を、片側からのみで検査可能なX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線発生手段とX線ビーム走査手段と散乱X線を検出するX線検出手段とを一体構成してなる測定ユニットYUと、X線検出手段の出力データを収集するデータ収集手段と、散乱X線画像を作成する画像化手段とを備えた。

Claim (excerpt)：

X線発生手段と、該X線発生手段により発生されたX線ビームを走査するX線ビーム走査手段と、該X線ビーム走査手段により走査されたX線ビームが検査対象物に当たって生ずる散乱X線を検出するX線検出手段と、前記X線発生手段とX線ビーム走査手段とX線検出手段とを一体に構成してなる測定ユニットと、前記検査対象物と測定ユニットの相対移動に伴う前記X線検出手段の出力データを収集するデータ収集手段と、該データ収集手段が収集したデータに基づき検査対象物の散乱X線画像を作成する画像化手段とを備えたことを特徴とするX線検査装置。