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J-GLOBAL ID：200903004927616700

光信号品質監視装置

Inventor： 金 薫 ,  呉 潤濟 ,  黄 星澤
Applicant, Patent owner： 三星電子株式会社
Agent (4)： 水野 勝文 ,  岸田 正行 ,  小川 英宣 ,  川上 成年
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004183515
Publication number (International publication number)：2005020737
Application date： Jun. 22, 2004
Publication date： Jan. 20, 2005
Summary：

【課題】光信号のフレーム形態にかかわらず簡便、低費用、短時間で光信号の品質を監視することができる光信号監視装置を提供する。【解決手段】光信号品質監視装置は、光カプラ100、光信号を電気変換する光検出部120、該電気信号からクロックを検出してデータを復元するクロック決定復元部140、及び監視部160を有する。監視部は、光信号を電気変換する光検出部162、該電気信号を所定レベル増幅すると共に反転させる反転増幅部164、該反転増幅信号とクロック決定復元部で復元されたデータ信号を加算して信号間差値を算出する加算部166、該差値信号をろ波する帯域通過フィルタ167、ろ波後の信号から、光信号に対するエラー値である高周波電力を測定する高周波電力測定部168を有する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

受信される光信号を電気信号に変換する光検出部と、 前記光検出部で変換された電気信号からクロックを検出して検出されたクロックに基づいてデータを復元するクロック決定復元部と、 前記受信された光信号をカップリングする光カプラから出力された光信号を電気信号に変換して変換された電気信号を所定レベルで反転増幅し、該反転増幅された信号と前記クロック決定復元部で復元されたデータ信号との間の差値を算出して、算出された差値信号を帯域通過フィルタリングして該フィルタリングされた信号から前記受信された光信号のエラー値である高周波電力を測定する監視部と、を備えてなることを特徴とする光信号監視装置。

IPC (5)：

H04B10/08 ,  H04B10/00 ,  H04B17/00 ,  H04L1/00 ,  H04L29/14

FI (5)：

H04B9/00 K ,  H04B17/00 R ,  H04L1/00 A ,  H04B9/00 B ,  H04L13/00 313

F-Term (38)：

5K014AA01 ,  5K014FA09 ,  5K014FA10 ,  5K014HA10 ,  5K035AA05 ,  5K035BB01 ,  5K035DD01 ,  5K035EE04 ,  5K035JJ06 ,  5K035KK04 ,  5K042AA02 ,  5K042CA10 ,  5K042CA12 ,  5K042DA11 ,  5K042EA01 ,  5K042FA23 ,  5K042FA25 ,  5K042GA01 ,  5K042JA01 ,  5K102AA11 ,  5K102AA15 ,  5K102AA42 ,  5K102AA63 ,  5K102AC01 ,  5K102AH23 ,  5K102KA20 ,  5K102LA02 ,  5K102LA11 ,  5K102LA26 ,  5K102MH03 ,  5K102MH14 ,  5K102MH22 ,  5K102MH32 ,  5K102RD01 ,  5K102RD04 ,  5K102RD05 ,  5K102RD12 ,  5K102RD28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭60-245323
  
• 特開昭61-033542
  
• 特開昭59-023938