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J-GLOBAL ID：200903004927652847

表面検査方法

Inventor： 新原 良美 ,  小飼 雅道
Applicant, Patent owner： マツダ株式会社
Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993236011
Publication number (International publication number)：1995092100
Application date： Sep. 22, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 カメラにより撮像した受光画像に基づき被検査表面の検査を行なう表面検査方法において、カメラと被検査物との間に相対的な位置ずれが生じている場合でも、受光画像中の非検査領域に対して正確にかつ自動的にマスキング処理を施して表面検査を行なうことを可能にする。【構成】被検査表面に検査光を照射し、該被検査表面から反射された反射光を受光して受光画像を形成し、該受光画像をその画像データに基づく値例えば輝度に応じて該受光画像中のボルト穴等に対応する非検査領域6には零を、それ以外の検査領域30には零以外の値を付与して2値化し、この2値化した2値化画像と上記受光画像とを乗算して上記非検査領域6の画像データは零とするマスキング処理を施し、このマスキング処理を施したマスキング画像を画像処理して上記被検査表面の検査を行なう。

Claim (excerpt)：

被検査表面に検査光を照射し、該被検査表面から反射された反射光を受光して受光画像を形成し、該受光画像中の非検査領域に対してマスキング処理を施した上で上記受光画像を画像処理して上記被検査表面の検査を行なう表面検査方法であって、上記受光画像をその画像データに基づく値に応じて上記非検査領域には零を、検査領域には零以外の値を付与して2値化し、この2値化した2値化画像と上記受光画像とを乗算してマスキング処理を施し、このマスキング処理を施したマスキング画像を画像処理して上記被検査表面の検査を行なうことを特徴とする表面検査方法。

IPC (2)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• ワーク表面検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-329384   Applicant：本田技研工業株式会社
• 特開平2-271245