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J-GLOBAL ID：200903004933214746
ニオイ測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995012992
Publication number (International publication number)：1996201249
Application date： Jan. 30, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：
【要約】【目的】 容器内に発生させたニオイを質量分析計等によって有効に分析するためのニオイ測定装置を得る。【構成】 容器20と、その容器20内に設けられる試料11を載せる試料台7と、その試料台に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオイを発生させるセラミックヒータ10を有する温度制御手段と、容器20からニオイをサンプリングするためのヒータ32付サンプリング管31と、そのサンプリング管31から導入されるニオイを分析するための分析装置30と、を有するので、容器20内のニオイをサンプリング管31に吸着させることなく分析装置30に導くことができ、発生しているニオイを外部の装置で分析することができる。
Claim (excerpt)：
容器と、該容器内に設けられる試料を載せる試料台と、前記試料台に接続されて加熱制御することにより載置試料からニオイを発生させる温度制御手段と、前記容器からニオイをサンプリングするためのヒータ付サンプリング管と、該サンプリング管から導入されるニオイを分析するための分析装置と、を有することを特徴とするニオイ測定装置。
IPC (6)：
G01N 1/28
, G01N 21/33
, G01N 21/35
, G01N 23/00
, G01N 27/62
, G01N 30/88
Cited by examiner (8)
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