積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：岡田全啓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002018118
Publication number (International publication number)：2003217990
Application date： Jan. 28, 2002
Publication date： Jul. 31, 2003
Summary：

【要約】【課題】積層枚数が比較的多い積層セラミックコンデンサの良品と不良品との判別の誤りが少ない、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を提供する。【解決手段】積層セラミックコンデンサは、ロットごとに、サンプリングされ、絶縁抵抗が測定される。測定した絶縁抵抗のロットごとの平均値から、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を判定するしきい値が、ロットごとに決定される。ロットごとに決定したしきい値から、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否が、ロットごとに判定される。

Claim 1：

絶縁抵抗の大小によって積層セラミックコンデンサの良否を判定する積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法であって、積層セラミックコンデンサをロットごとにサンプリングする工程、前記サンプリングしたセラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定する工程、および前記測定した絶縁抵抗から前記積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を判定するしきい値を前記ロットごとに決定する工程、および前記ロットごとに決定したしきい値から前記積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を前記ロットごとに判定する工程を含む、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法。

F-Term (6)：

5E082AB03 , 5E082BC40 , 5E082FG26 , 5E082MM19 , 5E082MM35 , 5E082MM38

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

積層セラミック電子部品の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-227130 Applicant：太陽誘電株式会社
積層セラミック電子部品のスクリーニング方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-093877 Applicant：株式会社村田製作所
特開平1-282478

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Cited by examiner (1)

積層セラミック電子部品の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-227130 Applicant：太陽誘電株式会社

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