Pat
J-GLOBAL ID:200903004998987491

レーザー光線の受光点中心の検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 戸島 省四郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996357261
Publication number (International publication number):1998185520
Application date: Dec. 25, 1996
Publication date: Jul. 14, 1998
Summary:
【要約】【課題】 大気環境・室内環境又は物体の表面状態で拡がったレーザー光の受光点の中心を正確に求める方法を提供し、レーザー光を用いた距離・位置・形状・寸法の精度を高める。【解決手段】 レーザー光を受光するスクリーン4をCCDカメラ5で撮影し、CCDカメラ5の撮像画素5aの輝度niを重みとして画素5aの位置xi,yiの平均値をコンピュータ6を用いて求め、その平均値を受光点8の中心とする。
Claim (excerpt):
レーザー光線を受光した物体表面を、多数の画素で撮像し且つ各画素は複数の段階又は連続的な感度でその輝度を感知し、画素の位置情報とその輝度信号を出力する撮像装置でもって撮影し、同撮像装置から出力される物体表面の画像の各画素の位置の座標値に輝度の値又はその増加函数値を重みとして平均値を求め、同平均値をスクリーンに受光した受光点の中心位置とすることを特徴とするレーザー光線の受光点中心の検出方法。
IPC (3):
G01B 11/00 ,  E01B 35/10 ,  E01C 23/01
FI (4):
G01B 11/00 D ,  G01B 11/00 H ,  E01B 35/10 ,  E01C 23/01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開平4-315005
  • 形状測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-123414   Applicant:株式会社東海理化電機製作所, トヨタ自動車株式会社, 株式会社豊田中央研究所
  • 特開平2-074812
Show all

Return to Previous Page