Pat

J-GLOBAL ID：200903005019025788

診断計画方法および装置

Inventor： 植竹 望
Applicant, Patent owner： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
Agent (2)： 井島 藤治 ,  鮫島 信重
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003404269
Publication number (International publication number)：2005165719
Application date： Dec. 03, 2003
Publication date： Jun. 23, 2005
Summary：

【課題】 患者および病院の双方にとって最適な診断計画を作成する方法および装置を実現する。【解決手段】 患者の氏名、性別、年令、病名および部位を含む情報を入力する入力手段(14)と、診断事例および外的制約事項を含む情報を蓄積したデータベース(12)と、入力情報に基づいて前記データベースを参照して診断計画を作成する作成手段(10)とを具備する。データベースを患者の氏名、性別、年令、病名および部位を含む入力情報に基づいて参照し、それによって得られた情報に基づいて診断計画を作成する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

診断事例および外的制約事項を含む情報を蓄積したデータベースを患者の氏名、性別、年令、病名および部位を含む入力情報に基づいて参照する手順と、 前記参照によって得られた情報に基づいて診断計画を作成する手順と、 を具備することを特徴とする診断計画方法。

IPC (1)：

G06F17/60

FI (1)：

G06F17/60 126G

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• コンピュータ断層撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-399359   Applicant：株式会社東芝