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J-GLOBAL ID：200903005019913420
干渉計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
八幡 義博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991357890
Publication number (International publication number)：1993180696
Application date： Dec. 26, 1991
Publication date： Jul. 23, 1993
Summary：
【要約】【目的】 飛翔体搭載に好適な干渉計を提供する。【構成】 走査鏡6を1インタフェログラム中方向10(衛星進行方向の前後方向)に往復回動させイメ-ジコンペンセ-ションを行いながら走査方向8(衛星進行方向に直交)に往復回動させ1インタフェログラム中の視野範囲を走査する。走査鏡6の反射光は干渉計部2に入力するが、固定反射部は固定プリズム11で、移動反射部は移動プリズム12でそれぞれ構成してあるので、画角が広くなっても光路差に応じた干渉光を形成する。検出器部4は光検出素子を2次元配列した2次元光検出器で集光部3が集光した干渉光を受ける。従って、高波長分解能での干渉分光と高空間分解能でのマッピングが行える。
Claim (excerpt)：
入射光を反射する鏡とこの鏡の反射面を人工衛星を含む飛翔体の進行方向と直交する方向へ回動させる走査機能とこの鏡の反射面を1インタフェログラム中同一地域に向けさせるイメ-ジコンペンセ-ション機能とを備える走査鏡部と; 前記走査鏡部の反射光から干渉光を形成する干渉計部であって、固定反射部と移動反射部とが一側面を反射面とするプリズムを用いて構成される干渉計部と; 前記干渉光を集光する集光部と; 前記集光部の出力光を2次元光検出器で受ける検出器部と; を備えたことを特徴とする干渉計。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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