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J-GLOBAL ID:200903005053807566
透過及び反射を利用した被測定物の光学特性の決定
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
古谷 馨 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002217098
Publication number (International publication number):2003130759
Application date: Jul. 25, 2002
Publication date: May. 08, 2003
Summary:
【要約】【課題】光ビームの透過方向及び反射方向の両方向の測定を利用してDUTの光学特性をより容易に決定することが可能な手段を提供する。【解決手段】本発明は、光ビームの透過及び反射を利用して測定対象デバイス(DUT)の光学特性、例えば、偏光依存性損失(PDL)、偏光モード分散(PMD)、群遅延時間差(DGD)、挿入損失、反射減衰量及び/または色分散(CD)を決定することに関連する。本発明は、少なくとも部分的に透過性で、かつ、少なくとも部分的に反射性であるエレメント(要素)を開示する。
Claim (excerpt):
測定装置(400、500)に反射の基準信号を加えて、光ビーム(22、80)の透過及び反射における(または透過及び反射を利用して)被測定物(6)の光学特性を決定するための素子(12)であって、少なくとも部分的に透過性で、少なくとも部分的に反射性であることからなる、素子。
IPC (3):
G01M 11/00
, G01N 21/41
, G01N 21/59
FI (3):
G01M 11/00 T
, G01N 21/41 Z
, G01N 21/59 Z
F-Term (16):
2G059AA02
, 2G059BB20
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE12
, 2G059FF08
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059JJ04
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK03
, 2G086KK01
, 2G086KK07
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