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J-GLOBAL ID：200903005053938130

回路基板検査装置

Inventor：
関 和彦

About 関 和彦


Applicant, Patent owner：
日置電機株式会社

About 日置電機株式会社


Agent (1)： 酒井 伸司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999045952
Publication number (International publication number)：2000241484
Application date： Feb. 24, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】 検査対象回路基板および検査用プローブの損傷を招くことなく検査可能な回路基板検査装置を提供する。【解決手段】 検査対象の回路基板Pについて所定の電気的検査を実行するための検査用プローブ18と、少なくとも回路基板Pにおける検査部位を検査用プローブ18に対して接近または離隔させることにより所定の検査位置に位置決めする位置決め機構14とを備えている回路基板検査装置1において、位置決め機構14は、気体を吐出することにより生じる負圧または正圧によって検査部位を検査用プローブ18に対して接近または離隔可能に構成されている。
Claim (excerpt)：
検査対象の回路基板について所定の電気的検査を実行するための検査用プローブと、少なくとも前記回路基板における検査部位を前記検査用プローブに対して接近または離隔させることにより所定の検査位置に位置決めする位置決め機構とを備えている回路基板検査装置において、前記位置決め機構は、気体を吐出することにより生じる負圧または正圧によって前記検査部位を前記検査用プローブに対して接近または離隔可能に構成されていることを特徴とする回路基板検査装置。
IPC (3)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28
FI (3)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 E ,  G01R 31/28 K
F-Term (16)：
2G011AA02 ,  2G011AC02 ,  2G011AC06 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10 ,  2G032AA00 ,  2G032AF04 ,  2G032AL03 ,  9A001HH34 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK37 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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