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J-GLOBAL ID：200903005062337033

分子配向測定方法及び装置

Inventor： 永田 紳一 ,  木村 晃 ,  粟飯原 広征
Applicant, Patent owner： 新王子製紙株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995020841
Publication number (International publication number)：1995270342
Application date： Feb. 08, 1995
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】オンライン測定が可能な分子配向測定方法及び装置を提供する。【構成】互いに電磁界の振動方向が異なり、且つ互いに平行な、複数のマイクロ波ビームを試料に照射し、それぞれの透過光強度を検出して、これらの検出出力から配向パターンを演算導出する。装置としては、互いに軸を平行にして複数の導波管を電磁界振動方向を異ならせて近接配置し、各導波管には各々の軸を横断して同一面内に試料配置用スリットを設け、各々のマイクロ波透過度を測定する。

Claim (excerpt)：

互いに電磁界の振動方向が異なり且つ互いに平行な、複数のマイクロ波ビームを試料に照射し、各透過マイクロ波の強度を検出して、これらの検出出力から配向パターンを演算導出することを特徴とする分子配向測定方法。