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J-GLOBAL ID：200903005082547050

半導体装置

Inventor： 落合 勇悦 ,  小関 修
Applicant, Patent owner： 松下電子工業株式会社
Agent (1)： 宮井 暎夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992198190
Publication number (International publication number)：1994043222
Application date： Jul. 24, 1992
Publication date： Feb. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 テスト端子を削減する。【構成】 切替回路62の入力端子622に電源端子41を接続してあり、テスト信号切替端子3に論理レベル“L”を印加するとテストモードに設定され、切替回路62は入力端子622に入力される信号を機能回路63へ出力する。このテストモード設定時に、アナログスイッチ9により、電源端子41を内部電源ライン7と切り放し、切替回路62の入力端子622に接続するようにしている。電源端子41にテスト信号を印加すると、テスト信号は切替回路62を介してそのまま機能回路63に入力されるので、電源端子41をテスト端子として機能回路63をテストすることができる。

Claim (excerpt)：

通常モードとテストモードを有する被試験回路を内蔵し、テストモード設定時に電源端子を内部電源ラインと切り放し前記被試験回路の入力端子に接続する接続切替手段を設けた半導体装置。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/66 ,  H01L 27/04