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J-GLOBAL ID：200903005084086395

プリント基板検査装置

Inventor：
鈴木 隆

About 鈴木 隆

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神山 健

About 神山 健

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中道 泰久

About 中道 泰久

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加島 史夫

About 加島 史夫

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高橋 秀昭

About 高橋 秀昭


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Agent (1)： 西村 教光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999338177
Publication number (International publication number)：2001153646
Application date： Nov. 29, 1999
Publication date： Jun. 08, 2001
Summary：
【要約】【課題】 プリント基板上に形成される半田に関して高さムラや欠損などの半田不良を統計処理してプリント基板の品質を向上できること。【解決手段】 センサヘッド20は、X軸移動手段及びY軸移動手段によってプリント基板上で相対的に縦横方向に移動走査しながらプリント基板上の半田の突起の高さを変位量として検出出力する。統計処理手段32は、センサヘッド20の位置、及び変位量の出力から各領域別の半田の高さの平均を演算する。この高さの平均値が領域別に予め設定された設定範囲を超える場合、半田の形成高さが不良と判断して前段の半田印刷機に警報データを出力する。これにより、装置を連続稼働させつつ半田の高さが一定な良品質のプリント基板を製造できるようになる。
Claim (excerpt)：
連続的に搬入される各プリント基板の表面状態を検査するプリント基板検査装置において、前記プリント基板に対向配置され、該プリント基板上の突起の変位量を検出するセンサヘッドと、連続的に検査する複数枚のプリント基板について前記センサヘッドから出力される同一領域に関する突起の変位量の変動を統計処理する統計処理手段と、を備えたことを特徴とするプリント基板検査装置。
IPC (5)：
G01B 21/02 ,  G01B 11/00 ,  G01B 21/00 ,  G01N 21/956 ,  H05K 3/00
FI (5)：
G01B 21/02 A ,  G01B 11/00 B ,  G01B 21/00 E ,  G01N 21/956 B ,  H05K 3/00 V
F-Term (57)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA24 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB13 ,  2F065BB24 ,  2F065BB25 ,  2F065CC26 ,  2F065DD00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF43 ,  2F065GG04 ,  2F065GG12 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ16 ,  2F065LL04 ,  2F065MM07 ,  2F065PP04 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ42 ,  2F065TT01 ,  2F065TT02 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06 ,  2F069AA04 ,  2F069AA42 ,  2F069AA96 ,  2F069BB14 ,  2F069BB38 ,  2F069BB40 ,  2F069CC06 ,  2F069DD30 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG62 ,  2F069JJ08 ,  2F069JJ25 ,  2F069JJ27 ,  2F069MM04 ,  2F069MM13 ,  2F069MM32 ,  2F069NN26 ,  2F069PP07 ,  2F069QQ02 ,  2F069QQ03 ,  2G051AA61 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051BA10 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051DA07 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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