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J-GLOBAL ID:200903005123356826

光学センサーの検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998130911
Publication number (International publication number):1999326237
Application date: May. 14, 1998
Publication date: Nov. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】イメージセンサに対する異物の付着の仕方や光学系の周辺光量低下の影響を受けることなく、正確に焦点検出モジュール等の光学センサーの異物検査を行うことができる検査方法を提供する【解決手段】複数の光電変換素子を有して入射する光束に応じて画像出力列を発生するイメージセンサー(80)に一様輝度の照明を照射し(S1)、得られた画像出力列に基づいて基準値(平均値AVa,AVb)を求める(S2〜S3)。求めた基準値と画像出力列との差の絶対値を加算した加算値(MSa,MSb)を求め(S4)、この加算値が所定値(Cst1)より大きい場合にゴミが付着していると判定する(S5〜S8)。
Claim (excerpt):
複数の光電変換素子を有し入射する光束に応じて画像出力列を発生するイメージセンサーに一様輝度の照明を照射し、前記画像出力列に基づいて基準値を算出し、前記基準値と前記画像出力列との差の絶対値を加算した加算値を算出し、前記加算値に基づいて前記イメージセンサーのゴミ付着の有無を判定する事を特徴とする光学センサーの検査方法。

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