ブリルアン散乱測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：田村爾 , 杉村純子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008085474
Publication number (International publication number)：2009236813
Application date： Mar. 28, 2008
Publication date： Oct. 15, 2009
Summary：

【課題】被測定用光ファイバのみを用いてブリルアン散乱を測定可能なブリルアン散乱測定装置を提供すること。【解決手段】プローブ光a0とポンプ光b0とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段40と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバ41と、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段42と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光a3を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置である。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

プローブ光とポンプ光とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバと、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置。

IPC (5)：

G01D 5/353 , G01K 11/12 , G01B 11/16 , G01N 21/00 , G01M 11/00

FI (5)：

G01D5/26 D , G01K11/12 F , G01B11/16 Z , G01N21/00 A , G01M11/00 R

F-Term (27)：

2F056VF02 , 2F056VF03 , 2F056VF10 , 2F056VF11 , 2F056VF16 , 2F065AA65 , 2F065CC14 , 2F065FF41 , 2F065GG08 , 2F065GG23 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065LL22 , 2F065LL55 , 2F065NN08 , 2F103CA04 , 2F103CA06 , 2F103EC08 , 2F103EC09 , 2F103EC10 , 2G059AA05 , 2G059BB20 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059JJ17 , 2G086DD04 , 2G086DD05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特許第3667132号公報
特許第3607930号公報
ブリルアン散乱測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-193323 Applicant：住友大阪セメント株式会社, 鹿島建設株式会社

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Cited by examiner (1)

分布型センサ装置と分布型センシング方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-277602 Applicant：古河電気工業株式会社

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