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J-GLOBAL ID:200903005133498920

レーザ測量システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 市村 健夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993348925
Publication number (International publication number):1995198382
Application date: Dec. 28, 1993
Publication date: Aug. 01, 1995
Summary:
【要約】【目的】 計測点設置用装置が廉価・軽量で、得られた位置情報の伝達に配線コードを必要とせず、併せて、三次元の変位計測が連続的且つ迅速に可能なレーザ測量システム。【構成】 投光装置から投射されたレーザビームが物体上の反射装置を走査すると、反射面76、77で位置情報がレーザビームに付与され、反射レーザビームにより伝達された位置情報に基づいて物体の変位が計測される。
Claim (excerpt):
レーザビームを投射し、前記レーザビームで物体を走査する投光装置と、前記物体に付設され、前記走査するレーザビームに前記物体の基準位置と前記レーザビームが物体に投射される位置との関係を示す位置情報を付与して前記レーザビームを反射する光反射手段を備えた反射装置と、前記反射したレーザビームを受光し、前記付与された位置情報に基づいて前記レーザビームが前記物体に投射される位置を検出する検出手段とを具備することを特徴とするレーザ測量システム。
IPC (2):
G01C 15/00 ,  G01C 5/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭63-259411

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