Pat

J-GLOBAL ID：200903005168791027

アンモニア測定装置

Inventor： 飯田 裕 ,  小島 淳二
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998266980
Publication number (International publication number)：2000097852
Application date： Sep. 21, 1998
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】 装置構成を簡単にして安価にし、短時間で,かつ,容易にアンモニアの濃度を測定する。【解決手段】 サンプルガスSを液体中に溶解させた後,濃縮し、この濃縮された溶液を近赤外分光器16に送り、2150nm〜2250nmの波長領域でのアンモニアによる吸収に基づいてアンモニア濃度を測定するように構成する。

Claim (excerpt)：

サンプルガスを液体中に溶解させた後,濃縮し、この濃縮された溶液を近赤外分光器に送り、2150nm〜2250nmの波長領域でのアンモニアによる吸収に基づいてアンモニア濃度を測定するように構成したことを特徴とするアンモニア測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/35 ,  G01N 1/22 ,  G01N 1/36

FI (3)：

G01N 21/35 Z ,  G01N 1/22 S ,  G01N 1/28 Z

F-Term (13)：

2G059AA01 ,  2G059BB02 ,  2G059BB04 ,  2G059CC01 ,  2G059DD04 ,  2G059DD16 ,  2G059DD20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059MM20