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J-GLOBAL ID：200903005335529429
粒子分析装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996247587
Publication number (International publication number)：1998090156
Application date： Sep. 19, 1996
Publication date： Apr. 10, 1998
Summary：
【要約】【課題】 分析装置から出力される分布図の評価・判定を容易にすること。【解決手段】 粒子の特徴を表わすパラメータを検出する検出部と、検出されたパラメータを処理する処理部と、処理部による処理結果を出力する出力部を備え、処理部は、検出部によって検出されたパラメータについての分布図を作成する分布図作成部と、予め所定の参照用パターン図を格納した領域記憶部と、前記分布図に前記参照用パターン図を加えて出力部に出力させる制御部を備えた粒子分析装置。
Claim (excerpt)：
粒子の特徴を表わすパラメータを検出するための検出部と、検出されたパラメータを処理する処理部と、処理部による処理結果を出力する出力部を備え、処理部は、検出部によって検出されたパラメータについての分布図を作成する分布図作成部と、予め所定の参照用パターン図を格納した領域記憶部と、前記分布図に前記参照パターン図を加えて出力部に出力させる制御部を備えた粒子分析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 15/00 B
, G01N 33/49 E
Cited by examiner (7)
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Article cited by the Patent：
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