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J-GLOBAL ID：200903005406954886

クロマトグラフの吸光分析装置

Inventor： 太田 宏
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991186792
Publication number (International publication number)：1993010936
Application date： Jun. 30, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 吸光分析装置で他の官能基の影響やベースラインの変動の影響を除く。【構成】 クロマトグラフの流出流体試料の吸光度スペクトルを測定部2で一定周期で測定し、その測定された毎回の吸光度スペクトルの測定データに対してベースライン算出部4では指定された波数範囲の両端の吸光度値を含むベースラインを決定する。ピーク面積算出部6では決定されたベースラインを基準にして指定された波数範囲の吸光度スペクトルのピーク面積を算出する。算出されたピーク面積の経時的変化によりクロマトグラムを得る。

Claim (excerpt)：

クロマトグラフの流出流体試料の吸光度スペクトルを一定周期で測定する測定部と、測定部により測定された毎回の吸光度スペクトルの測定データに対して指定された波数範囲の両端の吸光度値を含むベースラインを決定するベースライン算出部と、決定されたベースラインを基準にして前記波数範囲の吸光度スペクトルのピーク面積を算出するピーク面積算出部と、を備え、前記ピーク面積算出部で算出されたピーク面積の経時的変化によりクロマトグラムを得る吸光分析装置。

IPC (4)：

G01N 30/74 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/31 ,  G01N 30/86

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-293466
  
• 特開昭62-172261
  
• 特開昭64-023142