Pat

J-GLOBAL ID：200903005416829370

無侵襲的測定装置及び方法

Inventor： ピーター・ディルウィン・エバンス
Applicant, Patent owner： ジョンソン・アンド・ジョンソン・メディカル・インコーポレイテッド
Agent (1)： 田澤 博昭 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997271914
Publication number (International publication number)：1998179584
Application date： Sep. 19, 1997
Publication date： Jul. 07, 1998
Summary：

【要約】【課題】 超音波パルスを用いて、対象物質以外の組織等からの光学ジクナルの影響を少なくする、対象物質の無侵襲的測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 超音波送出機10と、超音波パルスにより変調された対象領域4の後方散乱光学放射線の測定器8を利用する、体2内の選択領域4の無侵襲的測定装置及び方法。対象領域4における超音波パルスの振動を制御するために、2以上の超音波トランスジューサを使用してもよい。

Claim (excerpt)：

超音波送出機と、電磁放射線放射機と、電磁放射線検出機とを有し、これら全ては測定対象の物質のある領域の体面に配置されており、前記超音波送出機は、所定の持続時間の超音波パルスを前記体の中に向けて送り、前記電磁放射線放射機は前記領域に放射線を放射し、前記電磁放射線検出機は後方散乱放射線を検出し、さらに、前記後方散乱放射線を分析して、前記領域から散乱された光を区別し、前記領域の物質の特性を測定する分析手段とを有する、物質の無侵襲的測定装置。

IPC (2)：

A61B 8/00 ,  A61B 10/00

FI (2)：

A61B 8/00 ,  A61B 10/00 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-329936
  
• 生体計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-038107   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平4-329936