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J-GLOBAL ID：200903005419229340

波長計測装置

Inventor：
平山 紀友

About 平山 紀友

, 
佐野 安一

About 佐野 安一


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000309325
Publication number (International publication number)：2002116092
Application date： Oct. 10, 2000
Publication date： Apr. 19, 2002
Summary：
【要約】【課題】 波長計測信号のクロストークを低減して検出精度を向上させる。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のFBGが形成され、各FBGからの反射光の波長を検出して各FBGの位置における温度等の物理量を測定するための波長計測装置であって、各FBGからの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なAWGに入射させるとともに、このAWGの複数の出力チャンネルにそれぞれ接続された受光素子を一対ごとに前記FBGに対応させ、一対の受光素子による出力信号の比の対数に基づいて前記反射光の波長を計測するようにした波長計測装置に関する。前記FBGとして、波長スペクトルにおけるサイドローブが少ないアポダイズドFBGを使用する。
Claim (excerpt)：
測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定するための波長計測装置であって、各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路格子に入射させるとともに、このアレイ導波路格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ接続された受光素子を一対ごとに前記ブラッグ回折格子に対応させ、一対の受光素子による出力信号の比の対数に基づいて前記反射光の波長を計測するようにした波長計測装置において、前記ブラッグ回折格子として、波長スペクトルにおけるサイドローブが少ないアポダイズドFBGを使用したことを特徴とする波長計測装置。
IPC (3)：
G01K 11/12 ,  G01J 9/00 ,  G01L 1/24
FI (3)：
G01K 11/12 F ,  G01J 9/00 ,  G01L 1/24 A
F-Term (3)：
2F056VF02 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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