Pat
J-GLOBAL ID:200903005426374070

測距装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井出 直孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992290494
Publication number (International publication number):1994138230
Application date: Oct. 28, 1992
Publication date: May. 20, 1994
Summary:
【要約】【目的】 クロック周波数によって定められる1カウント距離分解能よりもさらに細かい距離分解能を得られるようにする。【構成】 パルスレーザ光の往復時間を計測することにより距離を測定する測距装置において、所定周波数fのクロック信号を発生するクロック発生器1と、N個のカウンタ回路6-1〜6-Nと、発生したクロック信号に(1/N)fづつの遅延を与えてカウンタ回路6-1〜6-Nに供給するN個のディレイ回路5-1〜5-2と、カウンタ回路6-1〜6-Nの出力を加算する加算回路3と、この加算回路3の出力を平均化する平均化回路4とを備える。
Claim (excerpt):
被測定距離をパルス光が往復する時間にわたり周波数fのクロック信号をカウントするカウンタ回路を備えた測距装置において、前記カウンタ回路をN個(Nは2以上の整数)備え、このN個のカウンタ回路に与えるクロック信号の位相をほぼN分の1周期づつ違える手段と、このN個のカウンタ回路のカウント値から前記被測定距離を演算するためのカウント値を計算する計算手段とを備えたことを特徴とする測距装置。
IPC (2):
G01S 17/10 ,  G01S 13/16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭52-096563

Return to Previous Page