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J-GLOBAL ID:200903005446843386
方位測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
早瀬 憲一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993063609
Publication number (International publication number):1994273504
Application date: Mar. 23, 1993
Publication date: Sep. 30, 1994
Summary:
【要約】【目的】 方位測定装置において、1対のアンテナのみで高精度の位相差方位測定を行う。【構成】 1対のアンテナ1a,1b間の位相差を位相差測定器2で測定し、アンテナ間の時間差を時間差測定器3で測定し、方位演算装置4で上記位相差,時間差から到来信号の方位を演算する。【効果】 アンテナが1対で済むため、構成が簡素で安価な装置が得られる。
Claim (excerpt):
所定間隔隔てて設けられた一対のアンテナと、該アンテナに入力する信号の位相差を測定する位相差測定手段と、上記アンテナに入力する信号の到来時間差を測定する時間差測定手段と、上記位相差及び到来時間差から上記信号の到来方位を演算する方位演算手段とを備えたことを特徴とする方位測定装置。
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