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J-GLOBAL ID：200903005485616850
プラスチック成型用型の表面検査法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
清水 久義 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993070309
Publication number (International publication number)：1994281436
Application date： Mar. 29, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：
【要約】【構成】 型表面に微細凹凸を有するプラスチック成型用型の該微細凹凸を透光性プラスチックの成形体表面に転写し、この成形体の光線透過率を波長400nm以上の光を用いて測定し、この測定値より上記成型用型の表面状態を判定することを特徴とする、プラスチック成型用型の表面検査法。【効果】 型表面に艶消し用の微細凹凸を有する成形用型につき、その微細凹凸の摩耗度合を数値的に正確に捉えて、不良化した成形用型と継続使用が可能な成形用型とを簡単に判別可能であり、不良化した成形用型のみを交換して良好な艶消し品質の成形製品を安定的に得ることができ、光線透過率の測定に適さない成形製品を対象とした成形用型であっても支障なく検査できる。
Claim (excerpt)：
型表面に微細凹凸を有するプラスチック成型用型の該微細凹凸を透光性プラスチックの成形体表面に転写し、この成形体の光線透過率を波長400nm以上の光を用いて測定し、この測定値より上記成型用型の表面状態を判定することを特徴とするプラスチック成型用型の表面検査法。
IPC (2)：
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