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J-GLOBAL ID：200903005503010841

リタデーション測定方法および同装置

Inventor： 三島 一憲
Applicant, Patent owner： 筒中プラスチック工業株式会社
Agent (1)： 清水 久義 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994043475
Publication number (International publication number)：1995253395
Application date： Mar. 15, 1994
Publication date： Oct. 03, 1995
Summary：

【要約】【構成】 被測定材1を挾む両側に直交偏光子3、4を配設すると共に、直交偏光子3、4間に被測定材1に隣り合って位相補償器5を配設し、該位相補償器5は、光路と直交する面内に、リタデーション値を所定の間隔で段階的に異ならせた複数の位相補償部8a〜8jを分布状に有するものとし、該位相補償部8a〜8jのうち偏光子4からの透過光量が零となる位相補償部を目視9にて特定することにより被測定材1のリタデーションを測定する。【効果】 被測定材のリタデーションを測定者の目視にて瞬時のうちに測定することができる。

Claim (excerpt)：

被測定材を挾む両側に直交偏光子を配設すると共に、直交偏光子間に被測定材に隣り合って位相補償器を配設し、該位相補償器は、光路と直交する面内に、リタデーション値を所定の間隔で段階的に異ならせた複数の位相補償部を分布状に有するものとし、直交偏光子からの透過光量が零となる位相補償部を目視にて特定することにより被測定材のリタデーションを測定することを特徴とするリタデーション測定方法。

IPC (2)：

G01N 21/21 ,  G11B 7/26