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J-GLOBAL ID：200903005603033490

3次元形状計測方法および装置

Inventor： 近藤 俊明 ,  飯島 克己
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 若林 忠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993326941
Publication number (International publication number)：1995181024
Application date： Dec. 24, 1993
Publication date： Jul. 18, 1995
Summary：

【要約】【目的】単眼の画像センサのみを用いた場合であっても、距離が急激に変化する領域でも高精度で測距できる3次元形状計測方法および装置を提供する。【構成】画像入力部101に入力する複数枚の画像に対してオプティカルフローを検出するオプティカルフロー検出部102と、画像中のエッジ領域を抽出する画像領域抽出部104と、オプティカルフローを利用し三角測量の原理によって距離情報を算出する三角測量演算部103とを設ける。また、画像の時間差分および空間勾配の関係式と画像入力部101の自己運動情報とから、距離情報を直接算出する直接法演算部105を設ける。直接法演算部105では、エッジ領域を中心とした距離情報を算出する。そしてこれら距離情報をデプスマップ合成部106で統合し、デプスマップ出力部107から出力する。

Claim (excerpt)：

被計測体の3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、撮像手段を用い視点を変えて前記被計測体に関する複数枚の画像を入力し、そののち、前記複数枚の画像から前記画像間の動きを表わすオプティカルフローを求め該オプティカルフローに基づいて距離情報を算出する第1の測距工程と、前記画像の時間差分および空間勾配の関係式と前記撮像手段の自己運動情報とから距離情報を直接算出する第2の測距工程とを実施し、前記第1の測距工程で得られる距離情報と前記第2の測距工程で得られる距離情報とを統合して最終的な距離情報を得ることを特徴とする3次元形状計測方法。

IPC (5)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (2)：

G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 350 M