周辺装置の試験システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995254362
Publication number (International publication number)：1997097195
Application date： Oct. 02, 1995
Publication date： Apr. 08, 1997
Summary：

【要約】【課題】周辺装置の装置試験を実行させるためには、周辺装置のコンソールパネルのスイッチを操作して行っているが操作方法は複雑になる方向にある。本発明は、ホスト側から周辺装置に対して装置試験を実行する装置コマンドを転送することにより、装置の試験を行う。これにより周辺装置の装置試験を実行するときの操作方法を簡略化する点にある。【解決手段】周辺装置にホスト側からの装置コマンドを受け取り、装置試験を実行する機能と周辺装置の装置情報(装置名称、装置制御プログラムの版数、装置試験コマンド情報)をホスト側へ通知する機能を持たせる。被試験装置である周辺装置の装置情報(装置名称、装置制御プログラムの版数、装置試験コマンド情報)を獲得して、それらの情報をホスト側のコンソールに表示し、試験作業者に実行する装置試験項目を選択可能にして実行させる。

Claim (excerpt)：

周辺装置(5)に対して装置コマンドの一部である装置試験コマンドを転送する装置試験処理部(14)をホスト装置(1)に設け、前記の装置試験コマンドに従って周辺装置(5)の試験を実行することを特徴とする周辺装置の試験システム。

IPC (2)：

G06F 11/22 310 , G06F 11/30 320

FI (2)：

G06F 11/22 310 V , G06F 11/30 320 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

表示/印刷装置のテスト方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-024599 Applicant：富士通株式会社
特開昭59-003648
特開平3-092952

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