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J-GLOBAL ID：200903005645540546

蒸気の乾き度測定装置

Inventor：
米村 政雄

About 米村 政雄


Applicant, Patent owner：
株式会社テイエルブイ

About 株式会社テイエルブイ


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002361934
Publication number (International publication number)：2004191290
Application date： Dec. 13, 2002
Publication date： Jul. 08, 2004
Summary：
【課題】絞り機構等の部材を省略することができ、構造が簡単で安価な蒸気の乾き度測定装置を得ること。【解決手段】蒸気配管1に容積流量計2と圧力センサ4と温度センサ5及び質量流量計3を順次に取り付ける。それぞれの流量計2,3とセンサ4,5は、演算制御部6と電気的に接続する。容積流量計2と質量流量計3の検出値、及び、圧力センサ4若しくは温度センサ5からの検出値に基づいて、演算制御部6で蒸気配管1内を流下する蒸気の乾き度が演算算出される。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
蒸気の流下する蒸気配管に複数の流量計を配置すると共に、蒸気の圧力又は温度を検出する圧力センサ又は温度センサを取り付けて、流下する蒸気の乾き度又は湿り度を測定するものにおいて、流下する蒸気の容積流量を検出する容積流量計と、流下する蒸気の質量流量を検出する質量流量計とを直列に配置して、当該それぞれの流量計からの検出値と、蒸気の圧力値又は温度値から、流下する蒸気の乾き度又は湿り度を算出する演算制御部を具備したことを特徴とする蒸気の乾き度測定装置。
IPC (2)：
G01N7/00 ,  G01N25/60
FI (2)：
G01N7/00 A ,  G01N25/60
F-Term (6)：
2G040AB05 ,  2G040BA13 ,  2G040BA23 ,  2G040CA15 ,  2G040CB08 ,  2G040CB09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 蒸気乾き度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-141221   Applicant：株式会社テイエルブイ
  • 湿り度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-032747   Applicant：株式会社テイエルブイ
Cited by examiner (2)
  • 蒸気乾き度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-141221   Applicant：株式会社テイエルブイ
  • 湿り度測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-032747   Applicant：株式会社テイエルブイ

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