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J-GLOBAL ID：200903005687164510

全有機炭素の測定方法

Inventor： 松久 浩明 ,  清藤 章典 ,  森田 洋造 ,  角 心吾 ,  三木 英之
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995047989
Publication number (International publication number)：1995287006
Application date： Jun. 29, 1989
Publication date： Oct. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】 測定者の手間を省き、迅速に測定ができるようにするとともに、検量線の選択を自動的に行ない、濃度の判断基準を一定にして正確なTOC濃度を求めることができる全有機炭素の測定方法を提供する。【構成】 全有機炭素(TOC)濃度の範囲が異なるごとにそれぞれの検量線、及びその検量線により得られる濃度SAMPとその検量線作成に用いた既知濃度STD#n によって定まり真の濃度との誤差を示す誤差関数f(SAMP,STD#n) を各検量線毎に作成しておき、まず、作成した検量線の中の1つの検量線を用いて得られた試料の濃度SAMPと、前記それぞれの検量線作成に用いた既知濃度STD#n とを適宜比較することにより、前記試料の濃度SAMPの両隣の値となる既知濃度STD#i-1 とSTD#i とを選定し、次に、これらにより定まる2つの誤差関数値f(SAMP,STD#i-1),f(SAMP,STD#i) を比較して、小さい方の既知濃度に対応する検量線を最適な検量線として自動選択し、その選択された最適検量線に基づいて試料の全有機炭素(TOC)の再測定を行う。

Claim (excerpt)：

全有機炭素(TOC)濃度の範囲が異なるごとにそれぞれの検量線、及びその検量線により得られる濃度SAMPとその検量線作成に用いた既知濃度STD#n によって定まり真の濃度との誤差を示す誤差関数f(SAMP,STD#n) を各検量線毎に作成しておき、まず、作成した検量線の中の1つの検量線を用いて得られた試料の濃度SAMPと、前記それぞれの検量線作成に用いた既知濃度STD#n とを適宜比較することにより、前記試料の濃度SAMPの両隣の値となる既知濃度STD#i-1 とSTD#i とを選定し、次に、これらにより定まる2つの誤差関数値f(SAMP,STD#i-1),f(SAMP,STD#i)を比較して、小さい方の既知濃度に対応する検量線を最適な検量線として自動選択し、その選択された最適検量線に基づいて試料の全有機炭素(TOC)の再測定を行うことを特徴とする全有機炭素の測定方法。

IPC (2)：

G01N 31/00 ,  G01N 33/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭54-099664
  
• 特開昭64-021353